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  FISCHER 测厚仪 X射线 XDAL237

  XDAL® 237 是一款兼顾高精度与自动化的全能型 X 射线测厚仪，特别适合对超薄涂层和低含量材料有严格测量要求的行业，如电子半导体、贵金属加工和制造业。其模块化设计和灵活配置选项使其能够适应各种复杂测量任务，是质量控制和研发实验室的理想选择。

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  XDAL237 X射线荧光测厚仪

  XDAL237 X射线荧光测厚仪 凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。在设计上，FISCHERSCOPE XRAY XDAL型仪器和XDLM型仪器相对应。

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