菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希尔台式测厚仪，FISCHER代理，菲希尔镀层测厚仪

xdlm 237 -菲希尔x射线荧光测厚仪代理 有三个型号：XDLM 231具有平面支撑台，XDLM 232具有手动操作的X / Y台。 XDLM 237配备了一个电动X / Y平台，当打开防护罩时，该平台会自动移到装载位置。

无损镀银测厚仪 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中，这一方法都能完美胜任，并还可以与现代化设备一起发挥作用。

*费希尔x-ray xan x射线荧光测量仪 X-RAY XAN 220是一种优化的X射线荧光测量仪器，用于珠宝、硬币和贵金属的无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。在氯（17）到铀（92）范围内可同时测定多达24种元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。

XDAL237 X射线荧光测厚仪 凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。在设计上，FISCHERSCOPE XRAY XDAL型仪器和XDLM型仪器相对应。

xan500fischer德国* 手持式、台式、在线： XAN®500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。

便携式x射线测厚仪* XAN®500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。

菲希尔X射线测量系统 菲希尔在生产过程实行严格的质量标准控制，在对零部件进行苛刻的检验，确保菲希尔X射线仪器有着很高可靠性。