无损镀银测厚仪 fischer x-ray xdl 230

能量散射X射线荧光光谱法（EDXRF）作为镀层厚度测量和材料分析的方法，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境中，这一方法都能完美胜任，并还可以与现代化设备一起发挥作用。

应用范围：
无论是电镀厂的简单的镀层厚度测量（例如铁上镀锌），还是镀液分析，复杂的多镀层应用， 非常复杂的贵金属分析或痕量分析（RoHS），一个软件程序就可以完成所有的测量应用：WinFTM。

仪器描述：

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列与XUL和XULM系列密切相关：两者都使用相同的接收器，准直器和滤片组合。配备了标准X射线管和固定准直器的XDL仪器非常适合大工件的测量。
XDLM型号的X射线源采用微聚焦管，可以测量细小的部件，对低辐射组分有较好的激励作用。此外，XDLM配备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地为不同的测量应用创造理想的激励条件。

两种型号的仪器都配备了比例接收器探测器。即使对于很小的测量点，由于接收器的接收面积很大，仍然可以获得足够高的计数率，确保良好的重复精度。
比较XUL和XULM仪器而言，XDL和XDLM系列仪器测量测量方向从上到下。它们被设计为用户友好的台式机，使用模块化结构，也就是说它们可以配备简单支板，各种XY工作台和Z轴以适应不同的需求。

特征

• 带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。*高工作条件:50KV,50W
• X射线探测器采用比例接收器
• 准直器：固定或4个自动切换，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
• 基本滤片：固定或3个自动切换
• 测量距离可在0-80 mm范围内调整
• 固定样品支撑台 ，手动XY工作台
• 摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准，显示实际测量点大小。
• 设计获得许可，防护全面，符合德国X射线条例第4章第3节

典型应用领域

• 大批量电镀件测量
• 防腐和装饰性镀层，如镍或铜上镀铬
• 电镀行业槽液分析
• 线路板行业如薄金，铂和镍镀层的策略
• 测量接插件和触点的镀层
• 电子和半导体行业的功能性镀层测量
• 黄金，珠宝和手表行业

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