德国FISCHER公司X-RAY荧光测厚仪 HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。 通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了新的软件和硬件技术，FISCHER 公司的X射线仪器具有其*的特点

德国Fischer x射线测厚仪 XULM 240代理 XULM特别适合测量细小的部件如连接器，触点或线，也可以测量印刷线路板上的Au，Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的很薄的金镀层也可以用测量点为Ø0.25mm的准直器测量，20秒的重复精度可达2.5nm。

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菲希尔X射线测厚仪XDL230 FISCHER，台式上照式 EDXRF 镀层测厚 / 材料分析仪，XDL 系列中端主力机型，手动 XY 平台 + 电动 Z 轴，兼顾小件批量检测、异形件、PCB、电镀件无损测厚，符合 ISO 3497、ASTM B568 行业标准，全辐射防护认证。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL240，德国 Helmut Fischer 全自动台式 EDXRF 镀层测厚 / 元素分析仪，XDL 系列顶配自动化机型，对标 XDL210/220/230，核心优势是电动可编程 XY + 双速电动 Z 轴，适合大批量、多测点、PCB、连接器、电镀件全自动无损测厚与材质分析。

菲希尔XDL230 X射线镀层测厚仪，同系列区分： XDL210：固定台面 + 固定 Z 轴，简易基础款 XDL220：固定台面 + 电动 Z 轴，无 XY 移动 XDL230：手动 XY 平台 + 电动 Z 轴（市面通用） XDL240：全自动电动 XY，适合批量自动化检测

菲希尔进口X荧光射线测厚仪XDL 菲希尔X射线测厚仪，测量精度非常高，根据用户的实际情况进行选配定制