FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列荧光镀层测厚仪介绍：

       多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50 nm Au或100 μmSn）都通过选择好的高压滤片组合很好地测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100 μm的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。对于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列来说，X射线源和接收器位于测量室的下方，这样可以快速方便地定位样品。除此以外，视频窗口也可以辅助定位，仪器前方的大控制台简化了操作，特别是在日常生产中测量大量部件时特别有用。尽管结构紧凑，但这些仪器都有大容量的测量室，这样大的物品也可以测量。壳体的开槽设计（C型槽）可以测量诸如印刷线路板类大而平整的样品，即使这些样品可能无法*放入测量室，样品直接放置在平整的支撑台上，或者定位精度更高的手动XY工作台上。

XULM 240介绍：

       XULM适合测量小的结构。它配备了微聚焦管，测量点小可达约100μｍ，同时比例接收器仍然可以保持相对高的计数率。即使很短的测量时间也可以达到很好的重复精度。此外，XULM配备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地为不同的测量应用创造*佳的激励条件。

应用实例:

XULM特别适合测量细小的部件如连接器，触点或线，也可以测量印刷线路板上的Au，Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的很薄的金镀层也可以用测量点为Ø0.25mm的准直器测量，20秒的重复精度可达2.5nm。