菲希尔X射线测厚仪XDL230 FISCHER，台式上照式 EDXRF 镀层测厚 / 材料分析仪，XDL 系列中端主力机型，手动 XY 平台 + 电动 Z 轴，兼顾小件批量检测、异形件、PCB、电镀件无损测厚，符合 ISO 3497、ASTM B568 行业标准，全辐射防护认证。

菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDL230核心硬件参数

1. X 射线激发系统

X 光管：钨靶铍窗口，热稳定设计，最大功率 50W

高压三档可调：30kV / 40kV / 50kV，阳极最大电流 1mA

标准准直器：φ0.3mm；可选配件：φ0.1mm、φ0.2mm、长条 0.3×0.05mm 矩形

最小测量光斑：φ0.2mm（搭配 φ0.1mm 准直器）

滤光片：标配固定滤光，可选 3 片自动切换滤光模块

探测器：比例计数管（PC），高计数率，测量速度快

2. 样品台与行程（XDL230 核心区分点）

XY 平台：手动，移动行程 95×150mm，工作台有效面积 420×450mm

Z 轴：电动升降，行程 140mm，样品最大高度 140mm、最大承重 20kg

DCM 距离补偿技术：0–80mm 深度异形件无需贴平，远距离精准对焦，曲面、深腔零件通用

视觉定位：40–160 倍彩色 CCD 显微镜头 + 激光定位点 + 十字刻度标尺 + 可调 LED 光源

3. 整机尺寸与电气

外形：570×760×650mm（宽 × 深 × 高）

重量：107kg

供电：220V 50Hz，整机功耗≤120W（不含电脑）

防护等级：IP40；工作环境 10–40℃