菲希尔进口X荧光射线测厚仪XDL
菲希尔进口X荧光射线测厚仪XDL
设计用途:能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液分析。
元素范围:从元素 氯(17) 到 铀(92),配有可选的WinFTM® BASIC软件时,最多可同时测定24种元素。
测量方式:从上往下;
设计理念:台式仪器,测量向上开启。
X射线探测:X射线接收器,比例接收器。
该系列型号采用定制,每一台的设备都是根据用户实际情况,测量需求所配置的。所以兼容性是非常高的。
测量距离:0~80mmsh使用自研的DCM测量距离补偿法。
样品定位:视频系统,高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置