菲希尔X荧光射线测厚仪XDL230

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230检测能力与精度

元素范围：覆盖氯（Cl, 17）至铀（U, 92），最多可同时测定 24 种元素。

镀层分析：支持多层镀层结构检测，包括装饰性镀层、功能性镀层（如电子工业中的焊盘镀层）及复杂基体材料，厚度测量范围从纳米级（如超薄装饰铬镀层）到毫米级。

检测精度：重现性变异系数小于 0.5%，误差控制在 1% 以内，满足航空航天、医疗器械等超精密应用需求。

硬件设计与创新

X 射线源：带铍窗口的钨靶 X 射线管，高压三档可调（30kV、40kV、50kV），使用寿命较上一代提升 40% 以上。

探测器：采用比例计数器（PC），能量分辨率高（130eV@Mn Kα），计数率稳定，适合快速测量。

测量距离补偿：DCM（Distance Compensation Method）技术，在 0-80mm 范围内自动补偿距离变化对精度的影响，可适应腔体零件等复杂形状样品。

样品定位系统：高分辨率 CCD 彩色摄像头（40-160 倍放大）与激光定位辅助，最小测量光斑直径约 0.2mm（使用 φ0.1mm 准直器时），适用于电子元器件、珠宝等微小零件的局部成分分析。

软件与操作便捷性

WinFTM® 软件：全中文界面，支持无标样分析（基于基本参数法）、数据管理、报告生成及样品库建立，可存储大量检测数据并与企业质量管理系统集成。

自动化流程：通过计算机控制全流程，支持实时视频监控测量过程，降低操作门槛。