Perthometer MARSURF PS1便携式粗糙度仪 MarSurf PS1 是在加工现场使用的便携式粗糙度测量仪。 它的Z大测量范围为 (350 µm0.014 in)(-200 µm 至 +150 µm)(-0.008 in 至 +0.006 in。 利用该仪器内置的驱动单元无需重新进行设置即可进行测量。它的Z大扫描长度为 17.5 mm(0.700 in)。
查看详细介绍Perthometer M300可移动粗糙度仪 马尔发挥了确保可移动粗糙度测量设备成功的关键作用。早在20世纪80年代,马尔与M4P设置了新的标准,该产品符合不断变化的检测要求,现在该设备已达到Z高标准。马尔可移动粗糙度测量仪灵活轻便,使用V型块易于定位并在不同的位置上提供的测量结果。
查看详细介绍Perthometer M2粗糙度仪德国马尔* 德国马尔MarSurf M 2粗糙度仪的操作是基于久经验证的强大功能t, 使得仪器的设置如测量条件,系统语言和测量报告能方便的配置。MarSurf M 2粗糙度仪让您得到Z到的测量功能和高效的测量灵活性.
查看详细介绍Surtronic S-116粗糙度仪泰勒霍普森经销商 测量范围:200 um 100 um 10 um 分辨率: 100 nm 20 nm 10 nm 底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm 重复精度 (Ra) :1%测试值+底噪 传感器原:电感 测量力:150-300mg 测针针尖半径:标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin
查看详细介绍Surtronic100系列粗糙度仪泰勒霍普森经销商 Surtronic S-100系列粗糙度仪是由英国泰勒-霍普森taylor hobson设计并制造的全新型的便携式粗糙度测量仪,坚固耐用、用途广泛并且具有外部连通性,能够广泛支持各种表面测量应用。 为了便于使用,这款全新的Surtronic S-100系列仪器拥有彩色触摸宽屏操作设计和高度直观的专有软件。适用于车间和检测间的使用。
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