Perthometer S2台式粗糙度测量仪 

Perthometer S2 有如下特征:
•  依照现行标准可实现粗糙度和波度测量
   (DIN EN ISO 3274, 例如: 带通滤波器)
•  重量轻 (不包括内置充电电池)
•  高分辨率的图形显示, 可清晰显示测量结果和轮廓
• 基于自动测量原理和多测量元素, 使得操作更简单
• 通过内置热敏打印机, 快速打印测量记录
• PCMCIA 存储卡可存储测量程序、测量结果和轮廓
• S2Prog 扩展程序, 可简单地建立测量程序

•  用途广泛和简易应用的软件功能, 例如:
-  自动设置标准滤波器和扫瞄长度功能
-  校准和维护周期监察功能
-  弧线滤除功能
-  动态和静态校准程序
-  多达 41 种评定参数, 按照 DIN EN ISO, JIS, ASME,
MOTIF, R, W, P 和 D 轮廓及特性曲线, 并可设定
MRC/ADC 不同比例缩放
-  滤波器和扫瞄长度可选
-  公差监控, 以声音和图标提示
-  密码保护功能, 防止错误的设置和修改
-  内置统计功能
-  独立功能按键
-  简易呼出和打印测量记录及各种功能
•  通过 PCMCIA 记忆于进行软件升级
•  SPC 接口可实现 S2 与生产程序连接
•  RS 232 接口可实现数据传输和远程控制

Perthometer S2台式粗糙度测量仪 

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