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浅析尼克斯膜厚仪应用优势,性能特点
点击次数:60 发布时间:2021-02-02
 
   尼克斯膜厚仪可以分为台式和手持式。
 
  手持式的是磁感应原理,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
 
  台式的荧光X射线膜厚仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
 
  尼克斯膜厚仪应用优势:
  1、快速:一般测量一个样品只需要10S~60S,样品可不处理或进行简单处理;
  2、无损:物理测量,不改变样品性质;
  3、准确:对样品可以分析;
  4、直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快;
  5、环保:检测过程中不产生任何废气、废水。
 
  荧光X射线尼克斯膜厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。
 
  尼克斯膜厚仪性能特点:
  良好的射线屏蔽作用。
  高分辨率探头使分析结果。
  测试口高度敏感性传感器保护。
  小孔准直器可以满足微小测试点的需求。
  采用高度定位激光,可自动定位测试高度。
  定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐。
  满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求。
  高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm。
  鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点。
 

尼克斯膜厚仪

 
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