尼克斯膜厚仪又名膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理是，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

型号

QuaNix 4200

QuaNix 4500

QuaNix 1200

QuaNix 1500

QuaNix 7500

QuaNix keyless

基体

Fe

Fe/NFe

Fe

Fe/NFe

Fe、NFe、Fe/NFe

Fe/NFe

探头形式

一体

一体、分体

无线分体

显示

LCD数字显示

测量范围

0－3000μm

Fe:0-3000μm

NFe：0－2000μm

0－2000μm

0－5000μm

0－2000μm

0－5000μm

0－5000μm

测量精度

0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%，

2000－5000μm≤±3%

显示精度

1μm

0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm

工作温度

－10－＋60℃

温度补偿

0－50℃

存储

－

1500M型

7500M型

keylessM型

3900个测量值，999个数据组

数据传输

－

RS232打印、电脑

统计功能

－

平均值、最大值、最小值、标准偏差

超限报警

－

上下限

最小基体

10mm×10mm

最小曲率

凸、凹半径：3mm/25mm

凸半径：5mm，凹半径：25mm

最薄基体

Fe：0.2mm，NFe：0.05mm

电源

5号电池2节

9V碱性电池1节

5号电池2节

重量

110g

130g

150g

130g

尺寸

110×60×27mm

166×64×34mm

110×60×24mm

110×62×22mm