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  霍尔效应瓶壁测厚仪FH7400测厚仪资料

  霍尔效应瓶壁测厚仪FH7400测厚仪资料 专业的，壁厚测厚仪为高达24 mm的非破坏性测量。该装置适合于非磁材料，如玻璃，合成材料，不锈钢和复合材料，甚至复杂元件几何尺寸的厚度测量可以被测量。 SIDSP传感器能够确保较高的测量精度和可重复性，并补偿测量环境和测量对象的温度的影响。传感器配备有使它们高度耐磨硬质合金金属提示。

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