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霍尔效应测厚仪校准步骤
点击次数:394 发布时间:2020-06-24
 
   霍尔效应是指磁场作用于载流金属导体、半导体中的载流子时,产生横向电位差的物理现象。当测厚仪电流通过金属箔片时,若在垂直于电流的方向施加磁场,则金属箔片两侧面会出现横向电位差。半导体中的霍尔效应比金属箔片中更为明显,而铁磁金属在居里温度以下将呈现极强的霍尔效应。
  如果把霍尔元件集成的开关按预定位置有规律地布置在测厚仪上,当装在运动物体上的永磁体经过它时,可以从测量电路上测得脉冲信号。根据脉冲信号列可以传感出该运动物体的位移。若测出单位时间内发出的脉冲数,则可以确定其运动速度。
  根据霍尔效应测厚仪原理,人们用半导体材料制成霍尔元件,它具有对磁场敏感、结构简单、体积小、频率响应宽、输出电压变化大和使用寿命长等优点,因此在测量、自动化、计算机和信息技术等领域得到广泛的应用。
  霍尔效应测厚仪校准方法
  1、按校准键,仪器提示 取下钢珠,按校准键
  2、放上带固定架的钢珠,按校准键
  3、这步骤很重要,放上薄垫片和校准钢珠,按校准键,仪器提示薄垫片厚度在1.016mm 近似值,以本次垫片为例1.021mm,测量显示厚度1.698mm,这个是未校准数据,根据提示继续按校准按键
  4、调整厚度值至1.021mm 继续按校准键
  5、放上厚垫片和钢珠,调整厚度值
  6、仪器提示用6.096mm近似垫片,实际垫片厚度6.096mm,测量值6.167mm,调准至6.096mm,按校准键,此时仪器提醒是否用其他校准片校准,选择是或者否即可,校准完毕。

霍尔效应测厚仪

 

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