霍尔效应测厚仪校准步骤

更新时间：2020-06-24

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　　霍尔效应是指磁场作用于载流金属导体、半导体中的载流子时，产生横向电位差的物理现象。当测厚仪电流通过金属箔片时，若在垂直于电流的方向施加磁场，则金属箔片两侧面会出现横向电位差。半导体中的霍尔效应比金属箔片中更为明显，而铁磁金属在居里温度以下将呈现*的霍尔效应。

　　如果把霍尔元件集成的开关按预定位置有规律地布置在测厚仪上，当装在运动物体上的永磁体经过它时，可以从测量电路上测得脉冲信号。根据脉冲信号列可以传感出该运动物体的位移。若测出单位时间内发出的脉冲数，则可以确定其运动速度。

　　根据霍尔效应测厚仪原理，人们用半导体材料制成霍尔元件，它具有对磁场敏感、结构简单、体积小、频率响应宽、输出电压变化大和使用寿命长等优点，因此在测量、自动化、计算机和信息技术等领域得到广泛的应用。

　　霍尔效应测厚仪校准方法

　　1、按校准键，仪器提示取下钢珠，按校准键

　　2、放上带固定架的钢珠，按校准键

　　3、这步骤很重要，放上薄垫片和校准钢珠，按校准键，仪器提示薄垫片厚度在1.016mm 近似值，以本次垫片为例1.021mm，测量显示厚度1.698mm，这个是未校准数据，根据提示继续按校准按键

　　4、调整厚度值至1.021mm 继续按校准键

　　5、放上厚垫片和钢珠，调整厚度值

　　6、仪器提示用6.096mm近似垫片，实际垫片厚度6.096mm，测量值6.167mm，调准至6.096mm，按校准键，此时仪器提醒是否用其他校准片校准，选择是或者否即可，校准完毕。

霍尔效应测厚仪