泰勒霍普森便携式粗糙度仪SURTRONIC DUO信息

更新时间：2026-07-14

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泰勒霍普森便携式粗糙度仪SURTRONIC DUO测量原理与测头配置

传感：压电式传感器，机动滑行扫描（带基准导块 Skidded，自带机械滤波，无需额外调平）

测针：金刚石针尖，半径 5μm，测力 200mg，耐磨稳定，通用绝大多数金属加工件

扫描行程：标准 5mm，扫描速度 2mm/s，单次测量 5 秒内出完整数据 + 轮廓曲线

泰勒霍普森便携式粗糙度仪SURTRONIC DUO关键技术参数

1. 量程与精度

垂直分辨率：0.01μm

Ra 测量范围：0~40μm

Rz/Rt/Rp/Rv 范围：0~199μm

准确度：读数 ×5% + 0.1μm

重复精度：读数 ×2% + 底噪 0.1μm

Ra、Rz、Rz1max、Rp、Rv、Rt、Rq、Rsk、Rku、Pa、Pz、Pp、Pv、Pt 等 18 项常用粗糙度参数，屏幕同步显示数值 + 二维轮廓曲线图