菲希尔金属镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230信息

更新时间：2026-07-14

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菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心硬件参数

1. X 射线发射系统

射线管：钨靶铍窗口，最大功率 120W

高压三档可调：30kV / 40kV / 50kV，适配薄镀层 / 厚金属 / 重元素

准直器：标配 φ0.3mm 圆形；可选 φ0.1/0.2mm、矩形 0.3×0.05mm

最小测量光斑：φ0.2mm（搭配 φ0.1 准直器），适配微小焊盘、连接器引脚

2. 样品台与定位（XDL230 核心优势）

手动 XY 行程：95mm × 150mm，工作台有效区域 420×450mm，可放整版 PCB、大五金件

电动 Z 轴升降：总行程 140mm，自动 / 手动双模式聚焦

DCM 距离补偿技术：0–80mm 深度盲孔、腔体零件无需垫高，远距离精准测量

视觉系统：40–160 倍高清 CCD 彩色相机 + LED 环形灯 + 激光十字定位，实时观察测量点位

3. 探测与分析能力

探测器：高计数率比例计数器，信号稳定、测量速度快

元素范围：Cl (17) ~ U (92)，可同步检测24 种元素、最多 23 层复合镀层

厚度量程：纳米级超薄镀层至毫米级金属涂层全覆盖

测量精度：镀层≥0.5μm 时顶层误差≤5%；重复测试变异系数＜0.5%

基础参数法 FP：内置 12 种纯元素标准谱库，无标准片也可直接建模测量；MQ 匹配值提示避免程式选错样品基体

4. 机身电气尺寸

整机尺寸：570×760×650 mm（宽 × 深 × 高）

重量：107 kg

防护等级：IP40

供电：220V 50Hz，最大功耗 120W（不含配套电脑）

工作环境：10–40℃，湿度≤95% 无凝露