菲希尔X射线测厚仪XDL210测量原理：运用 X 射线荧光光谱法，通过测量样品受 X 射线激发后产生的荧光 X 射线，实现对镀层厚度的精准测量和成分分析，采用无损检测方式，可保障样品完整性。

应用领域：适用于电镀量产零件、装饰性镀铬等薄涂层、电子和半导体行业功能涂层的测量，也可对印刷电路板进行自动测量，还能用于电镀溶液分析，在质量保证、进料检验和过程控制中发挥重要作用。

技术参数

X 射线源：带铍窗口的钨管，有 30kV、40kV、50kV 三档高压可调整。

准直器：标配孔径为 Ø0.3mm 的圆形准直器，可选圆形 Ø0.1mm、Ø0.2mm 及长方形 0.3mmx0.05mm 的准直器。

测量点：取决于测量距离及准直器大小，最小测量点大小约 Ø0.16mm。

测量距离：使用测量距离补偿法（DCM）功能时，未校准范围为 0-80mm，已校准范围为 0-20mm。

X 射线探测器：采用比例接收器，可实现高计数率，确保信号稳定接收，从而进行高精度测量。

样品台：为固定式平面样品平台，可用样品放置区域为 463x500mm，样品重量 20kg，高度根据不同情况为 155/90/25mm。

摄像头：高分辨率 CCD 彩色摄像头，放大倍数 20x-180x，有手动聚焦、十字线刻度和可调节亮度的照明，激光点用于准确定位样品。