英国泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO实物信息

更新时间：2025-06-09

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核心技术特性

1. 多元参数测量能力

支持测量20 + 项粗糙度参数，覆盖轮廓参数（如：

幅度参数：算术平均偏差 Ra、轮廓最大高度 Rz（ISO 4287）/ Rt（ASME B46.1）、均方根偏差 Rq

功能参数：轮廓支承长度率 Rmr(c)、偏斜度 Rsk、陡峭度 Rku

原始轮廓参数：Pa、Pz（适用于精密加工表面分析）

等），可满足从基础质量控制到复杂表面功能特性评估的多样化需求。

2. 高精度测量性能

分辨率：0.01μm（0.4μin），满足微米级精密测量需求

量程范围：粗糙度参数（Ra）：0.01μm ~ 40μm

轮廓高度参数（Rz/Rt）：0.1μm ~ 199μm

传感器动态范围：200μm（垂直方向）

计量级精度：示值误差：≤±5% 读数 + 0.1μm（符合 ISO 3274 标准）

重复性：≤±2% 测量值 + 噪声水平

滤波与评定标准：标配高斯滤波（Gaussian Filter），支持 ISO 11562 标准的 λs/λc 波长分离，确保测量结果的国际兼容性。

3. 智能操作与数据管理

快速测量模式：单次测量周期≤5 秒，支持连续扫描与定点测量双模式

人机工程设计：分体式结构（显示控制单元与驱动单元可拆卸），通过滑轨锁定机制实现灵活组合，适配深孔、凹槽等复杂几何特征测量

蓝牙 5.0 无线通信（传输距离≤1 米），避免线缆干扰，提升现场操作便利性

交互界面：2.8 英寸彩色 LCD 触控屏，支持中英文双语操作界面

三键式物理按键（电源 / 测量 / 菜单），兼容戴手套操作

数据存储与输出：内置存储器可存储≥500 组测量数据（含参数曲线）

支持 USB-C 接口数据导出，兼容 Surtronic Desktop 软件进行报表生成与趋势分析