英国泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO实物信息 |
点击次数:91 更新时间:2025-06-09 |
核心技术特性 1. 多元参数测量能力 支持测量20 + 项粗糙度参数,覆盖轮廓参数(如: 幅度参数:算术平均偏差 Ra、轮廓最大高度 Rz(ISO 4287)/ Rt(ASME B46.1)、均方根偏差 Rq 功能参数:轮廓支承长度率 Rmr(c)、偏斜度 Rsk、陡峭度 Rku 原始轮廓参数:Pa、Pz(适用于精密加工表面分析) 等),可满足从基础质量控制到复杂表面功能特性评估的多样化需求。 2. 高精度测量性能 分辨率:0.01μm(0.4μin),满足微米级精密测量需求 量程范围:粗糙度参数(Ra):0.01μm ~ 40μm 轮廓高度参数(Rz/Rt):0.1μm ~ 199μm 传感器动态范围:200μm(垂直方向) 计量级精度:示值误差:≤±5% 读数 + 0.1μm(符合 ISO 3274 标准) 重复性:≤±2% 测量值 + 噪声水平 滤波与评定标准:标配高斯滤波(Gaussian Filter),支持 ISO 11562 标准的 λs/λc 波长分离,确保测量结果的国际兼容性。 3. 智能操作与数据管理 快速测量模式:单次测量周期≤5 秒,支持连续扫描与定点测量双模式 人机工程设计:分体式结构(显示控制单元与驱动单元可拆卸),通过滑轨锁定机制实现灵活组合,适配深孔、凹槽等复杂几何特征测量 蓝牙 5.0 无线通信(传输距离≤1 米),避免线缆干扰,提升现场操作便利性 交互界面:2.8 英寸彩色 LCD 触控屏,支持中英文双语操作界面 三键式物理按键(电源 / 测量 / 菜单),兼容戴手套操作 数据存储与输出:内置存储器可存储≥500 组测量数据(含参数曲线) 支持 USB-C 接口数据导出,兼容 Surtronic Desktop 软件进行报表生成与趋势分析 |