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英国泰勒霍普森粗糙度仪Surtronic DUO实物信息
点击次数:91 更新时间:2025-06-09
 

核心技术特性

1. 多元参数测量能力

支持测量20 + 项粗糙度参数,覆盖轮廓参数(如:

幅度参数:算术平均偏差 Ra、轮廓最大高度 Rz(ISO 4287)/ Rt(ASME B46.1)、均方根偏差 Rq

功能参数:轮廓支承长度率 Rmr(c)、偏斜度 Rsk、陡峭度 Rku

原始轮廓参数:Pa、Pz(适用于精密加工表面分析)

等),可满足从基础质量控制到复杂表面功能特性评估的多样化需求。

2. 高精度测量性能

分辨率:0.01μm(0.4μin),满足微米级精密测量需求

量程范围:粗糙度参数(Ra):0.01μm ~ 40μm

轮廓高度参数(Rz/Rt):0.1μm ~ 199μm

传感器动态范围:200μm(垂直方向)

计量级精度:示值误差:≤±5% 读数 + 0.1μm(符合 ISO 3274 标准)

重复性:≤±2% 测量值 + 噪声水平

滤波与评定标准:标配高斯滤波(Gaussian Filter),支持 ISO 11562 标准的 λs/λc 波长分离,确保测量结果的国际兼容性。

3. 智能操作与数据管理

快速测量模式:单次测量周期≤5 秒,支持连续扫描与定点测量双模式

人机工程设计:分体式结构(显示控制单元与驱动单元可拆卸),通过滑轨锁定机制实现灵活组合,适配深孔、凹槽等复杂几何特征测量

蓝牙 5.0 无线通信(传输距离≤1 米),避免线缆干扰,提升现场操作便利性

交互界面:2.8 英寸彩色 LCD 触控屏,支持中英文双语操作界面

三键式物理按键(电源 / 测量 / 菜单),兼容戴手套操作

数据存储与输出:内置存储器可存储≥500 组测量数据(含参数曲线)

支持 USB-C 接口数据导出,兼容 Surtronic Desktop 软件进行报表生成与趋势分析


 
联系方式
  • 02158951061

    17321369640

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