FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希尔X射线测厚仪：能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪

X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台，用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，特别适用于测量和分析超薄镀层以及进行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台，是全自动测量样品的理想设备。

仪器设计特点

XDV-SDD 设计为界面友好的台式测量仪器，具备以下特性：

配备高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台和马达驱动的 Z 轴升降台，当具有防护功能的测量门开启时，样品台能自动移出到放置样品的位置。

通过激光点，可以快速对准需要测量的位置;仪器内置带有图像放大及十字线功能的视频系统，简化了样品放置的过程，并可对测量点位置进行精确微调。

测量门向上开启，采用侧面开槽设计。

软件操作

所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的 WinFTM® 软件在电脑上完成。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD技术参数

元素测定：最多可同时测定从铝(13)到铀(92)中的 24 种元素。

工作台与升降台：马达驱动、可编程运行的 X/Y 轴工作和 Z 轴升降台 。

准直器与滤片：马达驱动、可切换的准直器和基本滤片。

仪器配置：配备带铍窗口的微聚焦钨管，三挡可调节高压，6 个可切换的基本滤片。