x 射线荧光镀层测厚仪德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237，也称为 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用手动或自动方式，可对微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层进行测量和分析。

菲希尔X射线测厚仪FISCHER X-RAY XDLM237典型应用领域

测量大规模生产的电镀零部件

测量微小区域上的薄镀层

测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

全自动测量，如测量印刷线路板

设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 设计为界面友好的台式测量仪器系列，具备以下特性：

工作台与升降系统：配备马达驱动的 X/Y 工作台，保护门开启时，工作台自动移至样品放置位置；拥有马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。

定位辅助：高分辨率的彩色视频摄像头便于定位测量位置，配备的激光点可辅助定位并快速对准测量位置。

样品适应性：测量箱底部的开槽专为面积大且形状扁平的样品设计，能测量比测量箱更长、更宽的样品，例如大型的印制电路板。

样品摆放与测量调整：带有放大功能和十字线的集成视频显微镜，简化样品摆放，同时允许测量点的调整。