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镀层测厚仪测量精度受到影响的因素有什么?
点击次数:531 更新时间:2022-06-06
 
  镀层测厚仪在使用过程中需要注意哪几个方面:
  1、对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似;对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
  2、检查基体金属厚度是否超过临界厚度。
  3、不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
  4、不应在试件的弯曲表面上测量。
  5、通常由于仪器的每次读数并不*相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
  6、测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
  镀层测厚仪测量精度受到影响的因素有什么?
  1.磁场:
  周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。
  2.附着物质:
  测厚仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
  3.探头的取向:
  测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。
  4.曲率:
  试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。
  5.试件的变形:
  测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上不能测出可靠的数据。
  6.探头压力:
  测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。
 
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