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霍尔效应测厚仪校准注意事项
点击次数：942 更新时间：2021-12-22
 
　　霍尔效应测厚仪用于测量诸如塑料、玻璃、合成材料、铝及钛等非铁类的材料。测量的度不受材料的形状影响。基于霍尔效应理论，测厚时，将枚小钢珠置于测试材料的面，并将探头置于另面，探头的霍尔效应传感器测量出从探头至钢珠间的距离，即时显示出厚度读数。

　　霍尔效应测厚仪测量原理：
　　霍尔效应是电磁效应的一种。具体是指当电流垂直于外磁场通电半导体时，载流子会发生偏转。垂直于电流和磁场的方向会产生一定的附加电场，这种电场会在半导体的两端产生电势差。这种现象被称为霍尔效应，这种电势差被称为霍尔电势差。霍尔效应和传统的电磁感应*不同，当电流通过磁场中的导体时。磁场会对导体中的电子产生一个垂直于电子运动方向的作用力。在垂直于导体与磁感线的两个方向产生电势差。而霍尔效应测厚仪正是应用这种电势差原理来检测涂层的厚度。

　　霍尔效应测厚仪校准注意事项：
　　确保在测量过程中保持传感器的强磁场。
　　确保传感器端头，目标球和校准标准清洁。任何异物可能导致读数不稳定。
　　远离铁磁金属部件至少30厘米的安全距离。
　　建议在启动校准程序之前，先打开仪表2至3分钟进行预热。
　　为了zui大化校准精度和后续测量，请选择与后续测量样品相同厚度范围内的校准标准厚度。
　　请注意，大型目标球将比小目标球压缩软质材料。
　　在某些情况下，如果使用新的目标球(如果其直径与以前使用的直径相同)也可能需要重新校准。确保在测量模式下检查校准，将匹配的精度标准与适当的目标球放在传感器上。
　　如果由于电池电压不足而在校准过程中仪器关闭，则在安装新鲜电池后必须重复校准。
 

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