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影响麦考特(MIKROTEST)磁吸引力测厚仪精度的几个因素
点击次数:271 发布时间:2020-10-27
 

由于磁吸力或测厚仪经过校准后,在使用中不能再变动,所以在实际使用中可能会出现的一些影响测量精度的因素必须加以考虑,并对测量结果进行必要的修正。以获得更准确的读值。这些因素有:

 

a、钢铁基体的磁特性
磁性测厚仪受基体金属导磁性能变化的影响。低碳钢磁性的变化是很轻微的不必考虑,高碳钢及热处理后的硬钢则会使读值偏高。
b、基体金属厚度
该仪器有一个基体最小临界厚度值。型号不同,则该临界厚度不同。请参考技术说明指标表(表1)。若厚度超过这一最小临界厚度值,测量值不会受到影响;反之,则造成读值偏高。
c、边缘效应
该测量方法对被测体边界、孔眼、空腔等表面形状陡变敏感。因此,在靠近边缘或内转角处进行测量是不可靠的。所以,技术说明指标指出了最小测量面积。必须要测量这种场合时,一定要经过校准。
d、曲率
被测量件的曲率对测量有影响,一般凸面造成测值偏大,凹面则偏小。尽管仪器在设计时对这方面有所补偿。
e、覆盖层的厚度
测厚精度随覆层厚度变化面变化。对于薄的覆层,其测量精度是一个常数,与覆层厚度无关;对于厚度的覆层,其精度与覆层厚度近似成正比。
f、剩磁
基体金属的剩磁对 Mikrotest 测厚仪的测量结果会有影响。
g、磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场会严重干扰测厚仪工作。
h、地球重力
Mikrotest 测厚仪测量读数受测头相对于地球重力方向影响。

了解了以上几项可能影响测量精度的因素后,可以通过试测找到一个修正值。比较实用的方法是:在有以上情况的的没有涂镀层的被测件表面上先测量几次,找到一个平均初始值,然后在同样条件的涂镀层表面测量取得读数后,减去这个初始值。对于 b 项所列情况,可以采取在基材下面无隙紧贴一块铁板来近似解决。

 
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