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菲希尔X射线荧光测厚仪分析仪的应用
点击次数:265 发布时间:2020-06-22
 

由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛:
在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。
在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,精确分析贵金属合金组分。
在质量管控和来料检验中,需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中,光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中,则需要测量大批量部件的厚度。
对于电子产品的生产者和采购者,检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》(RoHS指令)也是十分关键的。在玩具工业中,也需要有可靠的有害物质检测手段。
对于以上测量应用,菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光谱仪都能完美胜任。

典型应用领域:

线路板行业.........................Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB等镀层的测量
电子行业.........................接插件和触点的镀层测量electronics industry
装饰性镀层.........................Cr/Ni/Cu/ABS
批量生产部件.........................(螺丝和螺母)防腐镀层测量,如Zn/Fe、ZnNi/Fe
测定电镀槽中的金属含量
珠宝和手表行业金和贵金属分析
测量几个纳米的超薄镀层,如印刷线路板和电子元件上的Au和Pd。
痕量分析(如电子元件(RoHS)或工具中的有害物质)
用XAN 150分析诸如Al,Si,P等轻元素
实验室,测试机构和大学里一般性的材料分析和镀层厚度测量

 

 
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