FISCHER X射线测厚仪 xan215信息

更新时间：2026-02-12

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FISCHERSCOPE X-RAY XAN215菲希尔X射线测厚仪是德国菲希尔 (Helmut Fischer) 推出的入门级经济型 X 射线荧光测厚仪，专为珠宝、钱币和贵金属的无损成分分析与镀层厚度测量设计，具备高性价比、操作简便、精度可靠的特点，符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 标准。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN215菲希尔X射线测厚仪核心定位与测量原理

核心定位：高性价比入门级 XRF 测厚仪，专注于贵金属分析与镀层测厚，特别适合金、银等简单合金

测量原理：采用能量色散 X 射线荧光光谱法 (EDXRF)，基于基本参数法 (FP 法)，无需标准片即可测量多种镀层系统

无损检测：非接触式测量，不损伤样品表面，适合高价值珠宝和精密零件

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