菲希尔XDL 230台式射线测厚仪是一款高精度、多功能的X射线荧光（XRF）镀层测厚与材料分析设备，广泛应用于电子、汽车、五金、电镀及精密制造等行业。

XDL 230配备高分辨率硅漂移探测器（SDD），具有优异的能量分辨率和计数率，确保即使在复杂多层结构或轻元素（如铝、镁、锌等）镀层的测量中也能获得稳定、准确的结果。其X射线管可选配不同靶材（如钨、钼、铬等），以优化对特定元素的激发效率，提升检测灵敏度。

该设备采用模块化设计，操作界面简洁直观，配合WinFTM® V6专业软件，用户可轻松完成校准、测量、数据管理及报告生成等操作。XDL 230还支持自动样品台选配，实现多点自动测量，大幅提升检测效率，特别适用于批量样品的质量控制场景。

安全性方面，XDL 230符合国际辐射安全标准，具备多重联锁保护机制，确保操作人员在使用过程中的安全。仪器整体结构紧凑，占地面积小，适合实验室或生产线旁部署。