泰勒霍普森PGI系列轮廓仪信息

更新时间：2025-12-02

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泰勒霍普森PGI系列轮廓仪体现了现代形状测量技术的水平，是进行高精度轮廓、粗糙度和波形分析的综合性测量平台。该设备采用模块化设计理念，能够根据用户特定的测量需求配置适配的传感器组合。

技术架构

测量平台：基于花岗岩基座的一体化结构，提供了优异的热稳定性和机械稳定性。直线电机驱动系统确保了纳米级定位精度，导轨直线度误差控制在0.5μm/200mm以内。

传感系统：标配高精度接触式探针，测量范围达25mm，同时可选配非接触式光学传感器。多传感器融合技术允许在同一坐标系下完成不同类型特征的测量，有效提高了测量效率。

控制系统：搭载的Metrology 4.0软件平台，支持复杂自由曲面和标准几何要素的自动识别与评价。智能路径规划功能可自动优化测量轨迹，避免碰撞风险的同时提升测量效率。

PGI轮廓仪在精密加工、模具制造、光学元件等领域发挥着重要作用，能够对工件的形状误差、位置误差和尺寸误差进行全面评定。其高重复性精度使其成为研发机构和制造企业进行质量控制的重要选择。