FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237测厚仪台式自动化测量设备，其融合高精度定位系统、灵活探测技术与人性化操作设计，可满足电子、珠宝、制造等多行业的质量控制、生产监控及研发需求，是兼顾测量精度与检测效率的专业解决方案。应用领域

电子与半导体工业

测量印刷电路板 Au/Pd 等纳米级超薄镀层（≤0.1μm），检测接插件功能性涂层厚度，分析焊料中铅含量等关键指标。

珠宝与贵金属行业

黄金饰品镀层厚度检测、贵金属纯度分析，适配 hallmarking（印记认证）中心的标准化检测需求。

通用制造与研发

多涂层系统厚度测量、合金成分分析、硬质涂层检测，支持来料检验与生产过程中的批量质量筛查。