德国菲希尔X射线荧光测厚仪信息

更新时间：2025-09-09

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技术原理

能量色散 X 射线荧光技术（EDXRF）

XDL 系列测厚仪利用 X 射线激发样品，使样品中的元素发射出特征 X 射线荧光。不同元素的特征 X 射线荧光具有特定的能量，通过探测器检测这些荧光的能量和强度，并进行能谱分析，即可确定样品中所含元素的种类和含量。对于镀层厚度的测量，仪器根据特征 X 射线荧光强度与镀层厚度的关系，经过精确的算法计算得出镀层厚度。

基本参数法

该系列仪器采用菲希尔基本参数法，这一先进技术使得仪器在没有标准片的情况下，也能对镀层系统、固体和液体样品进行准确的测量和分析。它基于物质对 X 射线的吸收和荧光产生的基本物理原理，通过输入样品的基本参数（如元素组成、密度等），利用复杂的算法计算出测量结果，大大提高了检测的灵活性，降低了对标准样品的依赖，同时也减少了因标准样品不准确或缺失带来的测量误差。

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