泰勒霍普森、粗糙度仪SURTRONIC DUO

Surtronic Duo II 的特点:

测量 - 触觉测量按钮，适用难测到的位置

分体式 - 通过滑轨和锁定装置，分为显示/控制装置和驱动装置两部分

金刚石测针和压电传感器 - 带金刚石坚固耐磨的压电传感器测针，确保测量结果的可靠性。

蓝牙技术 - 在驱动装置和显示/控制装置之间进行快速可靠的通信

泰勒霍普森粗糙度仪TAYLOR HOBSON SURTRONIC DUO技术指标

分辨率： 0.01µm（0.4µin）

量程（Ra）： 40µm（1600µin）

（Rz、Rv、Rp、Rt）： 199µm（7800µin）

重复性： 示值的 2% + 噪声

精度： 读数的 5% + 0.1µm（4µin）

噪声： 0.02µm（0.8µin）

标准： ISO4287

参数： Ra、Rz、Rv、Rp、Rt、Rz1mzx、Rsk、Rq、Rku，

Pa、Pz、Pv、Pp、Pt

泰勒霍普森作为专注于精细行业关键质量控制技术研发的企业，与精细轴承、汽车和航空航天工程等行业的消费商保持着严密协作。其推出的新型 系列仪器，专为满足各类粗糙度丈量需求而设计，适用于车间、工业现场及检测室等多种场景，还可提供多样化的系统和应用相关配件，并支持针对特殊应用的配件定制工装。