镀层测厚仪是一种多功能实用型便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。可对电镀液进行分析，不单性能优越，而且价钱*，同比其他牌子相同配置的机器，X光镀层测厚仪为您大大节省成本。只需数秒钟，便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。

 

　　镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
 

　　镀层测厚仪主要特点：
 

　　1、采用了全新的技术，为各种用户提供了蕞佳的分析性能和非常方便的操控性。
 

　　2、采用无标样分析法定量分析块状样品，分析多层膜样品。
 

　　3、采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑蕞小，空间分辨率蕞高。
 

　　4、使用XFlash探测器超高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。
 

　　5、高强度的X射线光管与多导毛细管聚焦镜相结合，确保在非常小的照射区域内获得非常高的激发强度。采用滤光片和可以同时使用的配有不同靶材的双光管，可以根据不同的分析要求，优化激发光谱。
 

　　6、涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得高品质的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。
 

　　7、可抽真空的样品室配有自动门，大尺寸的样品室可以放置各种尺寸的样品。通过两个放大倍数可变的摄像系统观察样品，便捷进样功能和自动对焦功能可以进行快速而的定位。通过用户编辑的X-Y-Z样品台运行程序可实现重复测量。
 

　　镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。