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电镀工业库伦测厚仪(X射线更经济)

电镀工业库伦测厚仪(X射线更经济)
如果非破坏性的方法无法使用时,可选择Couloscope Step CMS2测量金属或非金属基材上的几乎任何金属涂层的厚度,特别是多个涂层的厚度。库仑法可用于地确定任何类型的基底上的多层。

  • 产品型号:Couloscope CMS2
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2025-08-31
  • 访  问  量:1703
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详细介绍

电镀工业库伦测厚仪(X射线更经济)

---COULOSCOPE® CMS2 和 COULOSCOPE® CMS2 STEP根据库仑法测量镀层厚度和多层镍电位差
 

 

Couloscope Step CMS2:

Couloscope CMS Step突出特征:

>表格或图形格式测量数据的评估
>自动和手动测量开关

Additional for the STEP Test measurement:

>使用光标测定涂层厚度和电位差
>可调退镀电流
>用于调节银参比电极的自动测量序列(所需的AgCl涂层的生成)

如果非破坏性的方法无法使用时,可选择Couloscope Step CMS2测量金属或非金属基材上的几乎任何金属涂层的厚度,特别是多个涂层的厚度。库仑法可用于地确定任何类型的基底上的多层。

 
描述:

测量金属或非金属基底上几乎任何金属涂层的厚度。

液晶显示屏上的电池电压图形显示。
多种金属涂层的预定义测量应用。
单涂层和多涂层系统的测量。
图形显示,作为退镀速率的参数和具有测试区域大小的设置涂层系统。
可选择的测量单位:M或MILS。
欧洲、南美和亚洲显示语言。

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