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菲希尔X射线测厚仪

菲希尔X射线测厚仪,菲希尔代理,FISCHERSCOPE X-RAY XDL230,菲希尔

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2025-08-29
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详细介绍

菲希尔X射线测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

比例接收器能实现计数率

由于采用了FISCHER基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

通用规格

设计用途能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXPF),用于测定镀层和溶液分析。

元素范围从元素氯(17)到铀(92)

配有可选的WinFTM®BASIC软件时,可同时测定24种元素

设计理念台式仪器,测量门向上开启

测量方向由上往下


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