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华东代理fischer xdl-b镀层测厚仪 FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下，单一镀层、二元合金层、三元合金层和双镀层例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/C

多功能电解质测厚仪COULOSCOPE CMS2 作为测量镀层厚度*简单的方法之-一，库仑法可以用于各种镀层组合。尤其对于多镀层结构，当 允许破坏性测量时，它提供了一个比X射线更经济的替代方法。*并且用户友好的COULOSCOPE CMS2适用于电镀行业的生产监控和成品的质量检验

Fischer铁素体校准标准片 套件（含证书） Helmut Fischer提供鉴定过的校准标准片供客户校准仪器，这些标准片可以追溯到TWI二级标准片。标准片上标明了两种单位：铁素体个数FN和百分比含量%Fe。可通过发货前设置修正系数或用客户定制的标准片校准仪器来减少工件几何形状（曲率、厚度等）对测量的影响

德国FISCHER公司X-RAY荧光测厚仪 HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。 通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了新的软件和硬件技术，FISCHER 公司的X射线仪器具有其*的特点

fischer elektronik测厚仪代理现货 涂镀层测厚仪 别名：涂层测厚仪，镀层厚度测量仪，涂镀层厚度无损测量仪，手持式涂镀层测厚仪，表面电镀层厚度测量仪，油漆涂层测厚仪，便携式涂层测厚仪，*涂层测厚仪，无损测厚仪，覆层测厚仪。。。

德国HELMUT FISCHER铁素体含量测量仪 Feritscope FMP30采用磁导原理，铁素体含量是通过磁导率确定。主要性能参数是通过在较有名实验室里大量实验样件的基础上得到，并存储在仪器内。通过正确校准标准试块测量铁素体含量，测量的精度得到改进、提高。

菲希尔smp350 SIGMASCOPE®SMP350 根据涡流相位法DIN EN 2004-1 和 ASTM E 1004 测量电导率。 这种方法允许无接触测量，即使隔着油漆或者厚达500μm的塑料涂层，这种方法也几乎不受表面粗糙度的影响。