Fischer库伦法测厚仪|Fischer代理

作为测量镀层厚度zui简单的方法之一，库仑法可以用于 各种镀层组合。 尤其对于多镀层结构， 当允许破坏性测 量时，它提供了一个比 X 射线更经济的替代方法。

很多常见的单、双镀层例如铁镀锌或者铜镀镍镀锡都可 以用 CMS2 简单快速地测量。这个方法为任何金属镀层 提供了的测量。在厚度范围 0.05 - 50 μm 内， 很多 材料不需要预设定；基材组成和几何形状对于测量都 是无关紧要的。

zui常见的应用之一就是测量线路板上剩余的纯锡，以确 保可焊性。多镀层例如 Cr/ Ni/Cu 在铁或者塑料（ABS） 基材上，经常被用于高品质的浴室用品，也可以用这个 方法进行测量

Fischer CMS2 STEP库仑测厚仪

COULOSCOPE CMS基本配置：

仪器：            Couloscope CMS

测量台：          V24、V26、V18 等

电解液：          F1 ～ F22

COULOSCOPE CMS特征：

标准：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504

Fischer库伦法测厚仪|Fischer代理

模拟输出： 0 ～ -18V

输入阻抗： ＞ 2 KΩ

工作温度： 10 ℃ ～ 40 ℃

仪器重量： 6 kg

电源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA

尺寸： 350W * 140H * 200D  mm

仪器介绍！

特性

吸引人的设计，大的液晶显示器和清晰安排的键盘。

操作简单，菜单指引的操作提示。

电解区域直径从0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。

大约100个预先定义好的应用程式适用于大多数的金属镀层，包括测量线材。

测量原理 这个系列仪器根据 DIN EN ISO 2177 标准的库仑法。 金属或非金属基材上的金属镀层，通过在控制电流条件 下电解腐蚀--------实际上就是电镀的反过程。所载入的电 流与要剥离的镀层厚度是成正比的，假如电流和剥离面 积保持不变，镀层厚度与电解时间就是成正比的关系。