铁素体检测仪fmp30的使用说明

FERITSCOPERFMP30用于确定奥氏体和双相钢的铁素体含量，并确定奥氏体材料中变形马氏体的比例。
储存和运输以及校准标准
使用基础和校准标准（铁氧体标准品）对仪器进行归一化和校准。
正确的校准标准条件是正确校准并因此进行正确测量的重要先决条件。
请遵守以下内容以确保校准标准的正确条件：
为了在接触测量期间将底座和校准标准件的磨损降至*低，请仅将它们用于校准，而不用于测试测量！
不要弄脏或刮擦校准标准！
用未损坏的干净标准物替换腐蚀或刮伤的校准标准物或带有强凹痕的标准物。
为防止校准标准品弄脏或损坏，请将其保存在随附的包装盒中以进行运输和存储。

铁素体检测仪fmp30的使用说明DEL键功能说明：

选出最后测得的读数
重复按DEL：连续删除openblock的读数。
2 x DEL：在标准化过程中删除所有读数：
1x DEL-删除最后一个读数，
2x DEL-删除基础材料的测量系列。在校准期间：
1x DEL-删除最后一个读数，
2x DEL-删除当前校准标准的测量系列。
重复按DEL键：删除先前校准标准的测量系列。
..在所有菜单中：
DEL-返回上一级菜单或取消该过程。

所有可以连接到仪器的探头在其连接器插头中均配有一个存储芯片，即所谓的EEPROM。 特定于探针的信息（例如，探针类型，生产编号，测量方法或主特性系数）被**存储（即使没有电源）在该存储芯片中，该信息可能会被覆盖多次 如预期的。接通仪器电源时，该信息将由仪器自动检索和处理。 仪器“识别"连接的探头。仅当使用分配给打开的应用程序的探针进行测量时，才能执行正确的测量。

各种探针模型可用于对具有不同形状和不同表面特性的物体进行测量。 具有不同测量范围的特殊探头可用于以下应用领域，例如：

• 特别粗糙或磨蚀的表面

• 特别柔软的表面

• 表面受潮湿，酸性污染，特别是厚涂层或薄涂层

• 热表面

• 管道和钻孔中的涂层

有关可用的探头型号和适合您的应用的探头型号，请参见手册“测量探头和测量辅助工具-优化的探头3"。相应的探头数据表。您可以从Helmut Fischer GmbH或授权的供应商处获得此手册。

2. 为此，IIW（英国国际焊接协会）发展了二级标准片，根据DIN EN ISO8249标准和ANSI/AWS A4.2标准规定的方法制造。
       3. Helmut Fischer提供鉴定过的校准标准片供客户校准仪器，这些标准片可以追溯到TWI二级标准片。
       4. 标准片上标明了两种单位：铁素体个数FN和百分比含量%Fe。
       5. 可通过发货前设置修正系数或用客户定制的标准片校准仪器来减少工件几何形状（曲率、厚度等）对测量的影响。
       6. 不同的校准信息分别储存在不同的应用程式内。

标准配置：FERITSCOPE® FMP30 604-300仪器，背带，仪器箱，电池组，打印版操作指导，CD光盘（含操作说明和USB驱动程序，连接电缆FMP/PC