fischer荧光测厚仪xdl210

FISCHERSCOPE@ X-RAY XDL XDLM系列与XULXULM系列密切相关:两者都使用相同的接收器,准直器和滤片组合。配备了标准X射线管和固定准直器的XDL仪器非常适合大工件的测量。XDLM型号的X射线源采用微聚焦管，可以测量细小的部件，对低辐射组分有较好的激励作用。此外，XDLM配备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地为不同的测量应用创造佳的激励条件。

两种型号的仪器都配备了比例接收器探测器。即使对于很小的测量点，由于接收器的接收面积很大，仍然可以获得足够高的计数率，确保良好的重复精度。比较XUL和XULM仪器而言，XDL和XDLM系列仪器测量测量方向从上到下。它们被设计为用户友好的台式机，使用模块化结构，也就是说它们可以配备简单支板，各种XY工作台和Z轴以适应不同的需求。

菲希尔X射线电镀镍金测厚仪,该款仪器特别为颇具挑战性的RoHS/ WEEE分析而研发。而且，它还十分适合于测量黄金及其他贵金属，分析金的成分重复性可达0,5 ‰。可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。 使用安全简便，坚固耐用节省维护费用。而且，它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到*的准确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.
 电镀镍金测厚仪可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。