菲希尔X射线镀层测厚仪FISCHERSCOPE XDL230，德国 Helmut Fischer 台式上照式 EDXRF 镀层测厚 / 材料分析仪，XDL 系列中端主力机型；搭载手动 XY 工作台 + 电动 Z 轴，兼顾小件精密点位测量与中大尺寸工件，适合电镀、电子、五金来料质检、产线巡检，无损测多层镀层。

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