菲希尔测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，核心优势
DCM 深度补偿：弯头、深腔、高低落差零件不用垫高，大幅减少样品制样时间
电动 Z 轴自动对焦，搭配高清视觉，微小焊点、引脚精准定位
比例计数管探测器，相比硅漂移探测器，测厚速度更快、维护成本更低
FP 无标样算法，新镀层工艺无需定制标准片，适配多品种产线
长期稳定性强，校准频次低，适合车间在线质控、来料检验
上开盖 C 型

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