Couloscope CMS2库伦法测厚仪

COULOSCOPE® CMS2 CMS2可以测量几乎所有基材上金属镀层的厚度，包括多镀层结构; 它的工作原理是根据阳极溶解的库仑法 （DIN EN ISO 2177）。 简单的操作和菜单化的操作指导使CMS2成为电镀行业生产监控和质量检验理想的解决方法。设备为不同的镀层结构配备了近100个预留的应用程式（例如，铁上镀锌，黄铜上镀镍）, 以及各种电解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。这些应用程式适用于多镀层系统。

COULOSCOPE CMS2 库仑法测厚仪的仪器通过电解去除层来测量涂层厚度。 特别地，库仑法可以用于地确定任何种类的基底上的多层。 CSM2 STEP版本，用于单层标准的STEP测试测量，并检测潜在的差异，例如在镍多层质量控制中。同时测量涂层厚度和电化学电位根据库仑法。

Couloscope CMS2库伦法测厚仪

很多常见的单、双镀层例如铁镀锌或者铜镀镍镀锡都可以用CMS2简单快速地测量。这个方法为任何金属镀层提供了精确的测量。在厚度范围 0.05 - 50 μm内， 很多材料不需要预设定；基材组成和几何形状对于测量都是无关紧要的。

最常见的应用之一就是测量线路板上剩余的纯锡，以确保可焊性。多镀层例如 Cr/ Ni/Cu在铁或者塑料（ABS）基材上，经常被用于高品质的浴室用品，也可以用这个方法进行测量。