fischer镀层标准片 全规格

校准与附件

为了能得到准确的测量结果，所有FISCHER仪器都随机配备有操作直观、功能强大的软件，用于涂镀层厚度测量、材料分析、材料测试以及纳米压痕测试。借助测量台、软件功能扩展等方式，您可以根据自己的需求对仪器进行更具针对性的调整，同时也可提高操作便利性以及测量结果的精度。

校准

当精度非常重要时：需要各种校准附件，用于材料分析测试、涂镀层厚度测量以及纳米压痕测试。

校准

只有经过精密校准的测量仪器才能提供准确结果。FISCHER提供适用于测试和分析材料、测量涂镀层厚度以及进行纳米压痕测试所需的各种校准材料。其中包括，铁素体与电导率标准块以及用于涂镀层厚度的校准箔。我们的所有校准标准片均可溯源至受认证的主标准片。帮助您成功通过所有的质量管理审核！

铁素体含量测定仪校准/标准片
为了获得可以比较的结果，仪器必须用可以追溯到国际上接受的二级标准片校准。为此，IIW（英国国际焊接协会）发展了二级标准片，由英国焊接协会根据DIN EN ISO8249标准和ANSI/AWS A4.2标准规定的方法制造。Helmut Fischer提供鉴定过的校准标准片供客户校准仪器，这些标准片可以追溯到TWI二级标准片。标准片上标明了两种单位：铁素体个数FN和百分比含量%Fe。可通过发货前设置修正系数或用客户定制的标准片校准仪器来减少工件几何形状（曲率、厚度等）对测量的影响。不同的校准信息分别储存在不同的应用程式内。

Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik undMesstechnik 公司在下列领域*业界超过55年：
• 涂镀层测厚
• 材料分析
• 微硬度测试
• 材料测试