英国雷尼绍测头探针 Renishaw代理

40多年来，雷尼绍在工业测量领域实现了许多具有里程碑意义的创新，从*的触发式测头和机动重复定位测座，到可重复的测针交换和模块扫描系统，雷尼绍用于坐标测量机 (CMM) 的创新型传感器均符合行业标准。

雷尼绍提供各种类型的测头系统，以更好地满足具体的应用需求。上海笃挚仪器专业代理雷尼绍各种探头测针及光栅传感器等，原装真品，现货供应，欢迎选购！

触发式测头

雷尼绍提供品种齐全、具有理想性价比的系统，既可在手动坐标测量机上进行简单的性能检测，也可在数控高速机器上进行复杂轮廓测量。

触发式测头测量离散的点，是检测三维几何工件的理想选择。

雷尼绍提供品种齐全、具有理想性价比的系统，既可在手动坐标测量机上进行简单的性能检测，也可在数控高速机器上进行复杂轮廓测量。

测针模块交换

TP20和TP200测头具有测针模块交换功能，可提高生产率，并为您提供理想的测量应用系统。

• 减少循环时间 — 模块交换时间约为6秒，相比之下手动交换需要1分钟（还有重新标定时间）
• XY平面碰撞保护装置 — 测针模块在发生碰撞时会分离
• 模块可以安全地存放在交换架上

扫描测头

扫描测头每秒能够采集几百个表面点，可以测量轮廓、尺寸和位置。

扫描测头也可用于采集离散点，与触发式测头类似。

雷尼绍提供了一系列解决方案，供各种尺寸和配置的坐标测量机选用。

扫描原理

扫描测量提供了一种从规则型面工件或其他复杂工件上高速采集形状和轮廓数据的方法。

触发式测头可采集表面离散点，而扫描系统则可获取大量的表面数据，提供更详细的工件形状信息。因此，在实际应用中如果工件形状是整个误差预算的重要考量因素或必须对复杂表面进行检测，扫描测量可谓理想之选。

扫描需要根本不同的传感器设计、机器控制和数据分析方法。

雷尼绍扫描测头*特色的轻巧无电源机构（无马达或锁定机构），具有高固有频率，适合高速扫描测量。分离的光学测量系统直接（无需通过测头机构中的叠加轴）测量测针的偏移量，以获得更高的精度和更快的动态响应。