泰勒霍普森便携式粗糙度仪SURTRONIC S128

1. 泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC S128测量能力

• 量程覆盖：支持 400μm/100μm/10μm 三档量程切换，可精准测量从粗糙铸件（如 Ra 12.5-25μm）到超精密光学元件（如 Ra≤0.1μm）的全范围表面。

• 分辨率：对应三档量程分别为 50nm/10nm/5nm，噪声地板（Ra）低至 150nm/100nm/50nm，可捕捉纳米级表面纹理变化。

• 参数支持：涵盖 ISO 4287 标准参数（如 Ra、Rz、Rt、Rq 等）及功能参数（如 Rmr 材料比曲线、Rsk 偏态系数），全面反映表面微观形貌。

2. 泰勒霍普森粗糙度仪硬件设计

• 传感器：采用电感式传感器，钻石针尖半径可选 5μm（默认）、2μm 或 10μm，适配不同表面特性。

• 探头设计：标配 50mm 测针升降装置与直角附件，可深入 70mm 深孔或管道内部测量，支持反向测量复杂结构死角。

• 便携性：手掌大小（150x85x55mm），重量仅 0.5kg，机身包裹塑化橡胶，触摸屏覆盖聚酯薄膜，抗冲击和刮擦，适应车间振动环境。

3. 操作与续航

• 触摸屏：4.3 英寸彩色工业触屏，支持一键式操作，单次测量周期缩短至分钟级。

• 电源：内置锂电池，一次充电可完成 2000 次测量或待机 5000 小时，支持 USB 充电。