泰勒霍普森Taylor粗糙度仪DUO
Surtronic DUO 具辨识度的设计为分体式双单元架构，整机分为显示控制单元与测量驱动单元

1. 金刚石测针 + 压电传感器

   标配 5μm 半径耐磨金刚石测针，搭配高灵敏度压电感应探头；测针匀速划过工件表面波峰波谷，将微观垂直位移转化为电信号，经数字化芯片运算，实时输出标准化粗糙度参数，测针耐磨、抗磕碰，大幅降低更换维护频率

2. 精密电机驱动机构

   内置闭环控制精密马达，严格锁定标准测量行程，避免人工手持偏移带来的数据误差，每次测量轨迹统一，保证批次检测重复性。

3. 2.4 英寸日光可视彩色 LCD 屏

   高亮彩色屏幕无惧车间强光，单次测量同步展示Ra、Rz、Rp、Rv、Rt、Rq、Rsk、Rku等全系列 ISO 4287 标准粗糙度参数，同时生成完整表面轮廓曲线图，直观识别划痕、凹坑、加工缺陷，方便质检人员快速判定表面瑕疵

关键技术性能参数

• 测量标准：遵循 ISO 4287、ASME B46.1 国际粗糙度规范；

• 测量范围：Ra 0.01~40μm，Rz/Rt 最高可达 199μm；

• 测量精度：Ra ±(2% 读数 + 0.004μm)，单次工件重复性≤±3%；

• 垂直分辨率：0.01μm，捕捉微米级微观表面纹理；

• 测量行程：标准 5mm，支持自定义取样长度；

• 整机重量：仅 0.4kg，长时间手持不易疲劳；

• 续航：大容量锂电池，单次满电支持 2000 次以上测量，Mini USB 通用快充，支持充电宝、工业插座多场景充电。