MiniTest730 F2 HD
新的MiniTest700涂层测厚仪产品线，加强了德国EPK（Elektrophysik）公司在涂层测厚市场的。
- 创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的性
- 测量范围达15mm，可F、N或FN探头，提供内置或外接探头

产品型号：
厂商性质：代理商
更新时间：2025-08-31
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MiniTest730 F2 HD

新的MiniTest700涂层测厚仪产品线，加强了德国EPK(Elektrophysik)公司在涂层测厚市场的。
- 创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的性
- 测量范围达15mm，可F、N或FN探头，提供内置或外接探头
- FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体，操作方便不易出错

优点一览：

- SIDSP使测量不受干扰，测值更加
- 可更换探头使用更加灵活(MiniTest740探头可由内置换为外置)
- FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
- 温度补偿功能避免温度变化引起的错误
- 生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
- 大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
- 读数和统计值能单独调出
- 超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转
- 菜单指引操作，25种语言可选
- 带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
- 可下载更新软件

技术参数

探头特性		F1.5，N07，FN1.5		F2	F5，N2.5，FN5		F15
		F	N	F	F	N	F
测量范围		0~1.5mm	0~0.7mm	0~2mm	0~5mm	0~2.5mm	0~15mm
使用范围		小工件，薄涂层		粗糙表面	标准探头，使用广泛		厚涂层
测量原理		磁感应	电涡流	磁感应	磁感应	电涡流	磁感应
信号处理		探头内部32位信号处理(SIDSP)
度		±(1μm+0.75%读值)		±(1.5μm+0.75%读值)			±(5μm+0.75%读值)
重复性		±(0.5μm+0.5%读值)		±(0.8μm+0.5%读值)			±(2.5μm+0.5%读值)
低端分辨率		0.05μm		0.1μm			1μm
小曲率半径(凸)		1.0mm		1.5mm			5mm
小曲率半径	(凹，外置探头)	7.5mm		10mm			25mm
	(凹，内置探头)	30mm		30mm			30mm
小测量面积		Ø5mm		Ø10mm			Ø25mm
小基体厚度		0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
连续模式下测量速度		每秒20个读数
单值模式下大测量速度		每分钟70个读数